DL850 示波記錄儀

詳細(xì)介紹

DL850示波記錄儀系列是模塊化波形記錄儀，可以同時(shí)測量電壓、電流、應(yīng)變、加速度等多種信號。

DL850系列具有高速采樣、高絕緣耐壓、多通道測量等優(yōu)點(diǎn)，為節(jié)能領(lǐng)域的設(shè)備開發(fā)、評估和質(zhì)量控制提供強(qiáng)有力的支持。

超高速存儲記錄儀

· 高速(可達(dá)100MS/s)、高分辨率(zui高16位)、隔離(zui高1kV*1)

· 多通道，多達(dá)128個(gè)電壓通道或128位邏輯輸入

· 能以100kS/s的速度在16個(gè)通道同時(shí)進(jìn)行連續(xù)硬盤記錄*2

· 監(jiān)視CAN總線、顯示趨勢波形(僅限D(zhuǎn)L850V)

· 15個(gè)插拔模塊

*1.與隔離探頭(700929或701947)組合使用時(shí)
*2.選用/HD0或/HD1選件時(shí)

DL850示波記錄儀系列是模塊化的波形記錄儀器，可以同時(shí)測量電壓、電流、應(yīng)變、加速度等多種信號。DL850系列具有高速采樣、高絕緣耐壓、多通道測量等優(yōu)點(diǎn)，為節(jié)能領(lǐng)域的設(shè)備開發(fā)、評估和質(zhì)量控制提供強(qiáng)有力的支持。

測量越來越快的變頻器信號

高速(100MS/s)、高分辨率(12位)、1kV絕緣測量。*

YOKOGAWA的isoPRO技術(shù)提供zui高的速度和業(yè)界的絕緣性能。通過以節(jié)能為目的的isoPRO核心技術(shù)，為追求高電壓、大電流和高速動作的高效變頻器開發(fā)提供了有力的保障。

實(shí)例 – 測量變頻器輸出
以足夠高的時(shí)間分辨率精確測量變頻器的上升波形，也可以確認(rèn)過沖是否過大。

實(shí)例：以10MS/s和100MS/s的速度測量同一變頻器輸出波形。

DL850擁有15種*的插入式模塊，幾乎可滿足任何測量任務(wù)。

DL850除了向后兼容DL750的所有測量模塊外，又在產(chǎn)品線中增加了四個(gè)新的模塊。自由組合這些模塊后，不管是微弱電壓到高速、高壓信號都可測量。
 

更良好 – 更多的測量點(diǎn) – zui多128 CH的電壓輸入和128位的邏輯輸入
 

使用16-CH電壓輸入模塊(掃描型*)時(shí)，即使16個(gè)通道全部使用，也能以10kS/s的采樣率進(jìn)行測量。使用8個(gè)輸入模塊插槽，DL850可執(zhí)行128CH的電壓測量。

邏輯輸入模塊能夠以高達(dá)10MS/s*的速度，測量從TTL電平到高電壓接點(diǎn)閉合的所有信號。通過八個(gè)邏輯模塊，DL850可以監(jiān)視并執(zhí)行128位的邏輯測量。

實(shí)例：測量多輸出電源

家用電子產(chǎn)品的電源輸出數(shù)量較多，需要控制各個(gè)輸出之間的順序。使用多通道模塊，就不再局限于電壓測量，只要一臺儀器就可以完成從PC控制信號到AC風(fēng)扇動作、每個(gè)部件的溫度，從低速至高速信號的所有測量。

以高采樣率捕捉耐久性測試中的突發(fā)現(xiàn)象 – 雙捕獲功能

進(jìn)行耐久性測試時(shí)，為能把握長時(shí)間的趨勢數(shù)據(jù)，通常以低采樣速率采集趨勢數(shù)據(jù)。但突發(fā)的高速瞬時(shí)現(xiàn)象，需要用高采樣率來捕捉。

通過“雙捕獲”功能，可以采用不同的采樣速率進(jìn)行記錄，以解決此問題。

1. 縮放波形 - zui大采樣率為100kS/s時(shí)，可以邊進(jìn)行趨勢測量邊以zui高100MS/s的速度記錄5k~500kpts的高速觸發(fā)測量數(shù)據(jù)，zui多可以記錄5000個(gè)現(xiàn)象。記錄長度為5-500k點(diǎn)。 
 

2. 事件波形 - 顯示采集到高速波形時(shí)的時(shí)間。 
 

3. 低速主波形 - zui高100 kS/s 以低速滾動模式顯示趨勢波形 
 

4. 捕捉波形 - zui高100MS/s以高速觸發(fā)測量捕捉突發(fā)現(xiàn)象

實(shí)例：部件耐久測試

汽車以及其它交通運(yùn)輸工具的部件對可靠性的要求非常高。在不同溫度環(huán)境下執(zhí)行連接器的振動試驗(yàn)時(shí)，“雙捕獲”功能將發(fā)揮作用。

· 用高采樣速率準(zhǔn)確觀測震動

· 用低速采樣率確認(rèn)發(fā)生頻率

功能1:

回放過去的波形 – 歷史功能

執(zhí)行高速重復(fù)測量期間，當(dāng)您看到異常現(xiàn)象并按停止鍵時(shí)，異常現(xiàn)象往往已從屏幕上消失。

通過歷史功能，可自動對大容量內(nèi)存進(jìn)行分割并自動保存多達(dá)5,000屏歷史波形，隨時(shí)可以回放這些波形。

搜索歷史波形
要提取特定的異常波形，可以通過設(shè)置條件對歷史波形進(jìn)行搜索。可以在屏幕上畫出四邊形區(qū)域，并根據(jù)波形是否通過該區(qū)域?qū)Σㄐ芜M(jìn)行提取。也可以根據(jù)振幅和其它參數(shù)提取數(shù)據(jù)。

擁有豐富的觸發(fā)功能

簡單觸發(fā)&增強(qiáng)觸發(fā) 

DL除了提供易于使用的“簡單”觸發(fā)外，還有各種“增強(qiáng)”觸發(fā)功能，通過豐富的組合確保捕捉到想要的波形。

通過良好、易于理解的圖形用戶界面，可以直觀地設(shè)置增強(qiáng)觸發(fā)條件。

· 邊沿：在單一的觸發(fā)源的邊沿觸發(fā)(上升、下降、上升/下降)

· 時(shí)間：按時(shí)間或固定間隔觸發(fā)

增強(qiáng)觸發(fā)
 

· A -> B(N)：滿足條件A后，條件B第N次得到滿足時(shí)觸發(fā)

· A Delay B：滿足條件A并且時(shí)間已超過所設(shè)定的延遲量后，滿足條件B時(shí)觸發(fā)

· Edge On A：在滿足觸發(fā)條件A的情況下，在另一個(gè)邊沿觸發(fā)的OR條件下觸發(fā)

· OR：多個(gè)觸發(fā)源中只要滿足一個(gè)觸發(fā)條件就觸發(fā)

· AND：多個(gè)觸發(fā)源的觸發(fā)條件都滿足時(shí)觸發(fā)

· 周期：滿足波形周期的條件時(shí)觸發(fā)

· 脈寬：在脈寬條件滿足時(shí)間和設(shè)置時(shí)間長度的條件下觸發(fā)

· 波形窗口：通過生成的波形窗口時(shí)觸發(fā)

實(shí)例：“A Delay B”觸發(fā)設(shè)置屏幕(GUI)

波形窗口觸發(fā)

波形窗口觸發(fā)功能可用于診斷典型的電源故障，如瞬時(shí)斷電、電壓下降或浪涌。此外，還可以高效檢測頻率波動、電壓下降等現(xiàn)象(波形為40~1,000Hz的交流波形)。比較當(dāng)前波形與基準(zhǔn)波形(實(shí)時(shí)模板)，如果當(dāng)前波形超出容許的范圍后觸發(fā)。基準(zhǔn)波形由前一波形實(shí)時(shí)自動生成。

動作觸發(fā)

捕捉到不常發(fā)生的現(xiàn)象時(shí)，可以使用“動作觸發(fā)”功能，觸發(fā)時(shí)執(zhí)行事先的多個(gè)動作。

優(yōu)異的抗噪聲性能

通過低噪聲設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了良好的抗干擾性能。變頻器電路中的浮動電壓切換波形也可準(zhǔn)確捕捉。

功能2:

實(shí)時(shí)噪聲抑制處理和功率運(yùn)算 – 實(shí)時(shí)運(yùn)算(/G3選件)

DL850配備用于運(yùn)算的DSP(數(shù)字信號處理器)，捕捉波形期間可實(shí)時(shí)執(zhí)行通道間的運(yùn)算。通道間的運(yùn)算功能十分強(qiáng)大，可以按通道分別設(shè)置濾波運(yùn)算。除FIR、IIR、高斯函數(shù)和移動平均濾波之外，還可以使用zui多30個(gè)公式，例如帶系數(shù)的四則運(yùn)算、積分和微分、高階函數(shù)運(yùn)算等。

 

· 顯示測量波形和運(yùn)算波形的任意組合(總數(shù)zui多16個(gè))。

· 可以設(shè)置無模塊通道。

通過豐富的函數(shù)功能可直接顯示想要的波形 – 用戶自定義運(yùn)算(/G2選件)

DL標(biāo)配四則運(yùn)算、時(shí)移、FFT等運(yùn)算功能，可以顯示消除偏置或去除延遲后的波形。此外，還增加了用戶自定義運(yùn)算功能(/G2選件)，可以將微積分、數(shù)字濾波等多種函數(shù)進(jìn)行組合并執(zhí)行運(yùn)算。

 

用戶自定義運(yùn)算的設(shè)置屏幕

自動提取振幅、頻率和其它參數(shù) – 波形參數(shù)和統(tǒng)計(jì)運(yùn)算

在26種波形參數(shù)(波幅、頻率等)中，zui多可同時(shí)提取并顯示24個(gè)參數(shù)。菜單以圖標(biāo)列表的形式顯示，便于查看。

檢測和通知異常波形、判斷通過/不通過 - Go/NO-GO判斷

DL可以判斷波形或波形參數(shù)運(yùn)算值滿足(GO)或不滿足(NO-GO)預(yù)設(shè)的條件。判斷測量結(jié)果時(shí)，將執(zhí)行預(yù)設(shè)動作，并向用戶通報(bào)觀測到的異常波形和通過/不通過判斷
結(jié)果。此功能便于檢測電子設(shè)備生產(chǎn)線的信號以及追蹤異常現(xiàn)象。

支持多臺儀器同步測量 – IRIG輸入(/C20選件)

實(shí)例：大型運(yùn)輸機(jī)的同步測量 在飛機(jī)機(jī)翼兩側(cè)或火車車廂之間的同步測量中，需要多臺儀器實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步。只需使用一條IRIG電纜，即可使數(shù)據(jù)獲取同步。



*IRIG(Inter-Range Instrumentation Group)屬于美國軍用標(biāo)準(zhǔn)，用于與航空太空相關(guān)的數(shù)據(jù)記錄。它是種載頻為1 kHz/10 kHz的ASK(振幅移位)調(diào)制信號，同步精度zui高達(dá)1µs。DL850支持格式：A00、B002、A132、B122
 

支持外部硬盤 – 外部硬盤接口(/HD0選件)

確認(rèn)遲滯和相位之間的關(guān)系 – XY顯示功能

通過X-Y顯示，可以確認(rèn)兩個(gè)信號之間的關(guān)系。此功能可用于測量兩個(gè)正弦波的相位角等。

X軸和Y軸的組合設(shè)置多達(dá)四種，可以同時(shí)顯示多個(gè)X-Y波形，這樣便于找到相互間的關(guān)系。

還可以同時(shí)觀測X-Y波形和正常T-Y波形(用電*和時(shí)間軸顯示波形)。

實(shí)例：磁體動態(tài)BH特性運(yùn)算 使用DL850可以測量磁芯的電壓和電流，然后分析磁體磁通密度B和磁場強(qiáng)度H的遲滯。通過測量動態(tài)BH特性，可以評估磁致伸縮產(chǎn)生的能量損耗。

磁通密度：B = Integ (C1) / (K1*K2)
磁場強(qiáng)度：H = C2*K1 / K3
C1：電壓，C2：電流
K1:匝數(shù)，K2：截面積
K3:磁路長度

連接接口：

1. EXT I/O - 可輸出GO/NO-GO判斷結(jié)果，也可以通過開始/結(jié)束和其它其它外部信號控制儀器

2. 外部時(shí)鐘I/O (EXT CLK IN) - 根據(jù)外部信號執(zhí)行時(shí)鐘采樣(zui高9.5MHz)。

3. 外部觸發(fā)輸入(EXT TRIG IN)

4. 外部觸發(fā)輸出(EXT TRIG OUT)

5. 視頻信號輸出(VIDEO OUT) - 在外部RGB (XGA)顯示器上確認(rèn)波形。

6. USB-PC接口 -  可從PC控制儀器。

7. 以太網(wǎng)1000BASE-T - 標(biāo)配

8. GP-IB(可選)

9. IRIG(可選^*2) - 輸入外部時(shí)間信號，實(shí)現(xiàn)多臺DL850同步。

10. 外部硬盤接口(可選^*1) - 連接eSATA標(biāo)準(zhǔn)硬盤。

11. SD卡插槽 - 符合SD、SDHC標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)配

12. USB外圍設(shè)備接口 - 支持USB存儲器、鍵盤和鼠標(biāo)輸入。 

*1 內(nèi)置硬盤和外部硬盤接口只能兩者選一。
*2 GP_IB可與IRIG(/C20)選件并存。